LSIの最適な検証プロセスで品質向上と効率化を両立

LSI（Large Scale Integration：大規模集積回路）は、電子機器においてさまざまな機能を実現するために欠かせない重要な部品です。近年、回路の集積度が飛躍的に向上しており、LSIの設計はますます複雑になっています。LSIが仕様通り正しく動作するか確認する検証工程は、開発全体の約6割を占めるとも言われており、品質確保と検証効率を上げることの両立が求められています。
そこでリコーでは、LSIの検証をスムーズに行うため、早期の検証計画の立案から、テスト仕様や検証環境の構築、実行、回路最適化まで、必要な検証を一気通貫で行い、品質向上と検証工数の削減を同時に達成しています。
リコーは、複合機のほか、カメラや車載機器、医療機器などで使われるLSIの自社設計・開発を通して、独自のノウハウを蓄積してきました。このノウハウは、業種問わず、さまざまなLSIに展開可能です。

リコーのさまざまな製品のLSIにおいて、以下のような検証プロセスを実施することで、品質向上と検証工数の削減を両立しています。

• 検証工程前の計画立案、テスト仕様の明確化
• 検証環境の構築
• 検証実行と不具合箇所のフィードバック
• 目標動作周波数に対するタイミング改善（等価性検証を用いた回路最適化によるタイミング収束性向上）

検証手法には、動的検証、静的検証、等価性検証などがあり、リコーは、長年のLSI開発で培ってきたノウハウにもとづいて最適な手法を選択し組み合わせて適用しています。中でも、静的検証手法を早期から導入し、多くの製品開発に適用済で業界トップクラスの実績があります。

リコーは、これまでさまざまな商品のLSIの回路設計・開発から製造、評価まで自社で行っており、LSIの検証に独自の技術とノウハウがあります。業種を問わず、LSIについての仕様情報を元に、リコーが蓄積してきた技術から最適な手法を提案し、設計現場の品質向上と工数削減の両立を実現できます。